Reservoircharakterisierung
Integration optischer Dünnschliffe mit REM, XRD und Kathodolumineszenz zur Bestimmung von Lithologie, Porentypen, Diagenese und sedimentären Kontrollen der Reservoirqualität.
Der direkte Weg von Mineral- und Texturbeziehungen zu Reservoirqualität, Porenraumverhalten und geologischer Prognose.

Optische Dünnschliffpetrographie ist eigenständig aussagekräftig und gewinnt durch Integration mit REM, XRD, Kathodolumineszenz, Kernanalytik und Bohrlochmessungen zusätzlich an Wert.
Integration optischer Dünnschliffe mit REM, XRD und Kathodolumineszenz zur Bestimmung von Lithologie, Porentypen, Diagenese und sedimentären Kontrollen der Reservoirqualität.
Identifikation von Porentypen und Konnektivität sowie Quantifizierung von Porengeometrie, -größe und -form – besonders wertvoll für Cuttings, Seitenwandkerne und unverfestigte Proben.
Rekonstruktion von Kompaktion, Zementation, Lösung und Ersatz sowie Verknüpfung der Mineralreaktionen mit Versenkungsbedingungen und Reservoirqualität.
Bezug von Mineralogie, Textur, Tonverteilung und Porentypen zu NMR-, Dichte-, Gamma-Ray- und Porositätsmessungen.
Gruppierung messbarer mineralogischer und textureller Attribute zu geologisch belastbaren Gesteinstypen, die petrophysikalisches Verhalten erklären.
Auswertung von Quarzvarietäten, Feldspäten, Lithoklasten und Schwermineralen zur Interpretation von Liefergebiet, Transport, Reife und Beckenentwicklung.
Bewertung reaktiver Minerale, Tone, Feinpartikel und Porensäume im Hinblick auf Bohr-, Komplettierungs-, Stimulations-, Injektions- und Produktionsfluide.
Sprechen Sie mit uns über Ihre Proben, Untergrundfragen und Projektziele.